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| 產品介紹： Ux-720新一代國產專業鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結果業界。 采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。 Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節設計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。 X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。 Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果經得起科學驗證。 樣品移動設計為樣品腔外部調節，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。 設計更科學，軟硬件配合，機電聯動，輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。 軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。 產品指標： 測厚技術：X射線熒光測厚技術 測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層 測量下限：0.003um 測量上限：30-50um（以材料元素判定） 測量層數：10層 測量用時：30-120秒 探測器類型：Si-PIN電制冷 探測器分辨率：145eV 高壓范圍：0-50Kv，50W X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類； 光管靶材：Mo靶； 濾光片：專用3種自動切換； CCD觀察：260萬像素 微移動范圍：XY15mm 輸入電壓：AC220V，50/60Hz 測試環境：非真空條件 數據通訊：USB2.0模式 準直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm 軟件方法：FlexFP-Mult 工作區：開放工作區 自定義 樣品腔：330×360×100mm 標準配件 樣品固定支架1支 窗口支撐薄膜：100張 保險管：3支 計算機主機：品牌+雙核 顯示屏：19吋液晶 打印機：噴墨打印機 可選配件 可升級為SDD探測器 |
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