Smart Particle Investigator (SmartPI)是一款專為清潔技術領域的粒子分析而設計的軟件包。
SmartPI將ZEISS的傳統和FE-SEM顯微鏡轉變為自動表征的強大工具
單個應用程序中有興趣的粒子。
使用此軟件進行常規分析-它可以讓您執行標準任務和自動校準，無需用戶輸入。
的用戶受益有多種測量參數和分類類型。
報告選項允許訪問比以往更多的信息。
使用SmartPI，您可以從SEM中獲得更多:數據采集加快，流程可以在夜間和周末運行，無需監視。
根據您的需求配置
樣品支架用于針、過濾器和嵌入樹脂上的顆粒
?簡單的工作流程和友好的界面
自動系統校準啟動和測量期間的間隔
?在不監測過程的情況下連續測量多個樣品。

SmartPI自動執行以下任務:
?每個視場的粒子定位
?用于表征形態學的*圖像分析
(大小和形狀)
?eds分析，識別粒子組成
?使用分類數據庫，根據類型對粒子進行分組的所有數據關聯
?存儲的粒子圖像和數據在數據庫中使用
研究和報告
提供各種數據采集和創建報告的工具
簡單。更聰明。更多的集成。
smartpi為您提供SEM控制，圖像處理和EDS分析的所有功能，以分析和表征顆粒。
?該系統允許您自動進行重復分析。
?獲得持續的、不受監控的操作的好處。
?通過*小的操作輸入，獲得客觀的結果。
進行分析，如顆粒計數，粒度測定和顆粒識別。
為您的應用程序創建
將常規任務自動化，讓你可以自由地專注于重要的事情，如檢查、描述和報告。
您可以建立全自動快速分析。
由于您從數據采集的手動任務中解脫出來，您可以利用節省下來的時間從數據中收集重要信息并做出明智的決定。
SmartPI是專為技術清潔而設計的。
它可以根據ISO 16232 / VDA 19和符合用戶規格自動創建報告。
或者用它來對結果進行動態評估。
在相關粒子分析(CAPA)中，可以增加
通過使用SmartPI在光鏡和電子顯微鏡之間的相關工作流來提*工作效率和信息深度。