當前位置：儀器網 > 產品中心 > 光學儀器及設備>電子顯微鏡>電子顯微鏡部件及外設> 日立離子研磨儀器 IM4000PLUS
返回產品中心>高通量的斷面研磨配備斷面研磨能力達到500µm/h*2以上的高效率離子槍
配備斷面研磨能力達到500 µm/h*2以上的高效率離子槍。因此，即使是硬質材料，也可以高效地制備出斷面樣品。
斷面研磨加工原理圖
平面研磨（Flat Milling®）加工原理圖
附冷卻溫度調節功能的IM4000PLUS
該功能可有效防止加工過程中，由于離子束照射引發的樣品的溫度上升，所導致樣品的溶解和變形。對于過度冷卻后會產生開裂的樣品，通過冷卻溫度調節功能可防止其因過度冷卻而產生開裂。
常溫研磨
冷卻研磨
| 項目 | 內容 | |
|---|---|---|
| IM4000PLUS | IM4000PLUS | |
| 斷面研磨桿 | 平面研磨桿 | |
| 使用氣體 | Ar（氬）氣 | |
| 加速電壓 | 0 ～ 6 kV | |
| 研磨速度（Si材料） | 500 µm/hr*1 以上 | - |
| 樣品尺寸 | 20（W）× 12（D）× 7（H）mm | Φ50 × 25（H） mm |
| 離子束 間歇照射功能 | 標配 | |
| 尺寸 | 616（W）× 705（D）× 312（H）mm | |
| 重量 | 機體48 kg＋回轉泵28 kg | |
| 附冷卻溫度調節功能的IM4000PLUS | ||
| 冷卻溫度調節功能 | 通過液氮間接冷卻樣品、溫度設定范圍：0°C ～ －100°C | |
| 選項 | ||
| 空氣隔離 樣品夾持器 | 僅支持斷面研磨夾持器 | - |
| FP版斷面研磨夾持器 | 100 µm/rotate*2 | - |
| 用于加工監控的顯微鏡 | 倍率 15 × ～ 100 × 雙目型、三目型（支持CCD） | |
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
