超高分辨率的單峰、多峰和多顆粒分散體系粒度的分布

優異的顆粒分級

計數效率高（高頻數字化、脈沖分析和分級）

寬泛的動態范圍（可測量40 nm到8µm的粒徑），無需切換范圍或改變組件

檢測時間短

易于操作

樣品量少

嵌入式觸屏和基于服務器/瀏覽器的軟件

通過參考粒子進行單點校準

單粒子光散射技術（SPLS）記錄通過單個納米粒子和微米粒子散射到不同方向的光，同時通過非球形橫截面的聚焦激光束。

通過在光學流通池中進行流體動力聚焦，將單個粒子排列成一條直線。這樣，通過壓力差產生了中間的樣品流和周圍的鞘流。鞘流為樣品流創造了一種流體壁，并防止了機械阻塞。樣品流的橫截面可以動態調整（因數35），而無需改變機械部件。因此，可以容易地將流動條件調整為樣品濃度，從而避免濃度峰值的影響。

當單個粒子穿過激光束時，光會在所有方向上散射。通過兩個PMT同時記錄光的前向和側向散射，并在放大和數字化后進行實時分析。為每個粒子計算的散射光強度最多可分類為4.2x106通道，并以高分辨率條形圖顯示，在易于使用的觸摸屏上顯示計數分布。根據米氏理論，將分類強度轉換為粒度分布密度。測量，數據存儲和分析由軟件平臺SEPView®提供支持。

可以同時確定每個確定的尺寸分數的顆粒濃度是一個很大的優勢。 SPLS技術使您可以深入了解復雜的納米和亞微米顆粒系統，從而幫助您設計定制的顆粒和分散體。