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高檔型半導體檢測 TBM-800

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一、儀器用途 TBM-800半導體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區寬度,半導體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕等,刻蝕圖形的線條長、寬、直徑間距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑的儀器

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一、儀器用途

 TBM-800 半導體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區寬度,半導體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕等,刻蝕圖形的線條長、寬、直徑間距、套刻精度、分辨率以及陡直、平滑的儀器。配備大視野目鏡與偏光觀察裝置,透反射照明采用“柯勒”照明系統,視場清晰。可用于半導體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業試樣的檢驗,是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子工程學等研究的理想儀器,廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科研等領域。

二、產品特點
  配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片),視場大而清晰。配置大移動范圍的載物臺,能快速和慢速移動。粗微動同軸調焦機構,粗動松緊可調,帶鎖緊和限位裝置,微動格值:2μm。6V 20W鹵素燈,亮度可調。三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察,可進行99%透光攝影。不僅可以在目鏡上作顯微觀察,還能在計算機顯示屏幕上觀察實時動態圖像,并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

三、技術參數
1.目鏡
類型 放大倍數 視場(mm)
大視野目鏡 10X φ18
2.物鏡
類別 放大倍數 孔徑數值 工作距離(mm)
長距平場消色差物鏡 5X 0.12 9.7
10X 0.25 9.3
20X 0.40 7.2
40X 0.60 3.0
80x 0.80 1.2
3.光學放大倍數:50X  100X  200X  400X  800x
4.三目鏡,傾斜30˚,(內置檢偏振片,可進行切換)
5.五孔轉換器 (外向式滾珠內定位)
6.載物臺:三層機械移動式,尺寸: 250mmX230mm,移動范圍: 154mmX154mm
7.粗微動同軸調焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
8.照明系統:6V 20W鹵素燈,亮度可調;帶視場光欄、孔徑光欄,起偏振片,,
9.濾色片組:(黃,藍,綠,磨砂)
10.防霉系統

四、系統組成
(TBM-800):1.顯微鏡 2.適配鏡 3.攝像器(CCD) 4.A/D(圖像采集)

五、總放大參考倍數
TBM-800型:50—3500倍
                 
六、選購件
1.目鏡:16X 10X分劃  2.物鏡:50X  60X  100X  3.二維測量軟件


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