WBE威邦WBE-9089D推拉力測試儀是一種多功能推拉力測試儀：該設備無論測試精度、重復可靠性、操控性和外觀設計，均達到的水平。

應用領域：

廣泛應用于半導體封裝、LED封裝、IC器件封裝、TO封裝、IGBT功率模塊封裝、智能卡封裝、通訊電子、汽車電子產業、產品及各類研究院所、大專院校、電子電路失效分析與測試，應用還包括：wire pull, ball shear, tweezer pul,cold bump pull 和更專業的stud pull 等等。推拉力測試系統適用于半導體各種封裝形式測試金鋁線黏合力；及COB封裝、光電,LED,SMT組裝 , 原件與基板黏合測試。

產品功能：

1.滿足所有拉力和剪切力測試應用。

2.滿足內引線拉力測試、微焊點推力測試、金球推力測試、芯片剪切力測試、SMT焊接元器件推力測試、BGA矩陣整體推力測試。

3.可進行錫球剪切力，晶粒剪切力，凸塊拉力，矢量拉力，鑷鉗拉力等測試。

4.任意組合可實現多種功能推拉力測試。

5.滿足單一（獨立）測試模組或自由添加任意測試模組。

測試項目示意圖：

我們為您提供24小時方案服務及客戶樣品定制方案。

1.采用進口精密傳感器技術和配件，保證產品精度與穩定；

2.測試方式均采用VPM的垂直牽引及垂直定位技術；

3.四軸運動平臺，采用進口傳動部件，確保機臺高速穩定運行；

4.荷重精度帶7檔自動換擋功能保證全量程高精度;

5.測試數據在電腦上以波形圖、直方圖、數據報表等；

6.可以自動旋轉轉換拉力測試、小量程推力測試、大量程推力測試三種模組；

7.采用32Bits高精度高分辨率的AD轉換器；

8.每個傳感器采用獨立防碰撞超載保護系統，防止因操作失誤造成精度偏移；

9.采用力學設備控制技術三閉環：荷重閉環、位移閉環、速度閉環；

10.設備帶自動校正功能，可以選配專用的校正治具及砝碼；

一，主要技術參數：

1.拉力測試常用量程選擇：100g,1kg，5kg,20kg,50kg,100kg，測試精度0.1%；（其他量程商定）

2.推力測試常用量程選擇：250g,5Kg,100kg，200kg，500kg測試精度0.1%；（其他量程商定）

3.軟件可開放選擇：壓力測試、推力疲勞性測試、芯片高度測量、線弧高度測量；

4.X軸：有效行程100mm，速度5毫米/秒，分辯率0.1μm；

5.Y軸：有效行程100mm，速度5毫米/秒，分辯率0.1μm；

6.Z軸：有效行程100mm，速度7毫米/秒，分辯率0.1μm；

7.Z軸測試最小定位高度：≤0.5μm；

8.平臺夾具：平臺可共享各種夾具，夾具可360度旋轉；

9.四軸運動平臺，采用進口傳動部件，確保機臺高速、長久穩定運行；

10.機器自帶電腦windows操作系統，軟件操作簡單，可顯示測試數據及力值分布曲線；

11.顯微鏡:1~60倍；

12.壓縮空氣：4.5~6Bar；

13.真空供應：550mm Hg；

14.外形尺寸：寬W430mm*深D665mm*高H790mm；

15.重量：95KG；

16.電源：220V±5%, 50-60HZ； 

17.功率：1KW/4.5A；

二，操作軟件界面：

三，測試夾具：

四，主要配置清單：（除標注外的全部標配）