NanoSensors由原IBM公司的納米技術專家OladfWolter博士于1991年創建
 | |||
|
| |||
| NanoSensors由原IBM公司的納米技術專家Oladf Wolter博士于1991年創建。NanoSensors公司是世界上重要的面對提供高品質AFM探針的廠家。 NanoSensors出產的針尖曲率半徑小于10nm的AFM硅探針，對世界上許多重大的科學成果都有著貢獻。在多年間，NanoSensors不斷創新技術，擴展了AFM探針的種類，并獲得多個國際獎項。 2002年，NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集團，繼續堅持為的科研工作者提供品質的AFM探針。
| |||
| | |||
| NanoSensors常用的產品 | |||
|
| |||
|
| PPP-NCHR | ||
|
| |||
|
| |||
| | |||
|
| PPP-CONTR | ||
|
| |||
| | |||
|
| |||
|
| PPP-MFMR | ||
|
| |||
|
| |||
| | |||
|
| |||
NanoSensors產品概覽
 | PointProbe Plus (PPP)系列 常用探針 PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針，適用于大部分的應用及商品化的AFM。 PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm，可實現高分辨率的應用。整個系列保證了高品質及高穩定性。 | |
|
| ||
| | ||
|
| SuperSharp Silicon (SSS)系列 超尖探針 SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術生產，專門為超高分辨的成像所設計。 SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm，實現超高分辨率的應用。整個系列保證了高品質及高穩定性。 | |
|
| ||
| | ||
|
| High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列 AR系列探針專門為測量具有大長徑比或垂直臺階結構的樣品而設計。 AR系列探針具有接近垂直的針尖，總體針尖長度達到10-15um，針尖的曲率半徑小于5度（AR10小于2.8度）。 | |
|
| ||
| | ||
|
| Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列 金剛石鍍層探針 DT(金剛石)和CDT(導電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況，同樣也應用于摩擦力測量、樣品彈性測量等。 | |
|
| ||
| | ||
|
| MFM 磁力顯微鏡探針 多種規格（硬磁或軟磁）的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應用而設計。所有探針的磁性鍍層，均具有的穩定性。 | |
|
| ||
| | ||
|
| Carbon Nanotube (CNT)系列 碳納米管探針 Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應用而設計的。 碳納米管探針使用化學沉積的方法，在PPP系列針尖的處，生長出碳納米管，從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長徑比及的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探針中，能獲得的分辨率。 | |
|
| ||
| | ||
|
| AdvancedTEC (ATEC)系列 AdvancedTEC系列探針，在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖。這種的技術使得ATEC系列探針可以從上方觀察到針尖的探針，從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位。 | |
|
| ||
| | ||
|
| Plateau (PL)系列 Plateau系列探針，使用離子束切割技術，將傳統錐形的針尖弄鈍，在針尖處形成一個直徑為1.8μm的圓形平臺，為用戶的特殊應用提供了個性化的探針。 | |
|
| ||
| | ||
|
| Transfer Standards /Calibration Standards 標準樣品 NanoSensors提供的高精度標準樣品包括： 1. 二維正交標準樣品：周期分別為100nm、200nm和300nm。 2. 高度標準樣品：臺階高度為8nm。 3. 粗糙度標準樣品：100um以內的峰峰值小于10nm。 | |
|
| ||
| | ||
| | ||
| NanoSensors探針種類齊全，品質優秀，更多型號請登錄NanoSensors網站查詢。 | ||
|
| ||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
進入NanoSensors網站
