公司介紹：

        Protochips致力于發(fā)展用于納米尺度科學(xué)研究的突破性分析工具及產(chǎn)品的研發(fā)，將觀察儀器和納米材料處理*結(jié)合，成功的將電子顯微鏡由一般的成像拍攝功能轉(zhuǎn)變?yōu)檎嬲募{米實(shí)驗(yàn)室，實(shí)現(xiàn)電鏡在各種條件下原位觀察樣品反應(yīng)過(guò)程和結(jié)果。

        Protochip旗下共包括：ADURO, POSEIDON， C-FLAT, DURASIN四款產(chǎn)品， 可以應(yīng)用于生物學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、冶金學(xué)、材料、電子和半導(dǎo)體、材料表面加工、金屬失效分析等領(lǐng)域。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

        C - FLAT™是用于低溫透射電鏡的新款多孔碳支持膜，技術(shù)制造，超平的碳膜可使待觀察顆粒分散更均勻，為冰層厚度均勻打下良好的基礎(chǔ)。膜上的花樣孔采用深紫外光刻印制技術(shù)，確保了孔大小的精確（精確至微米級(jí)別）；同時(shí)確保了孔型的連續(xù)性，精細(xì)的制造技術(shù)*消除了多于的碳和碳膜孔產(chǎn)生的邊角料。

C - FLAT™ 優(yōu)勢(shì)
·C-flat™可得到更好的數(shù)據(jù)

        C-flat™ 是用于低溫透射電鏡的新款多孔碳支持膜，技術(shù)制造，超平的碳膜可使待觀察顆粒分散更均勻，冰層厚度更均勻，能得到更高質(zhì)量數(shù)據(jù)和更高分辨率。

·C-flat™更實(shí)惠

C-flat™有25，50,100不同包裝可選，適合不用需求。

·C-flat™開(kāi)包可用

        由于芯片網(wǎng)格都是清潔的，只需做簡(jiǎn)單的準(zhǔn)備工作就可以進(jìn)行檢測(cè)。在樣品制備過(guò)程中，大大減少了準(zhǔn)備時(shí)間。

應(yīng)用

C-flat™實(shí)現(xiàn)低溫TEM單個(gè)粒子分析高分辨率數(shù)據(jù)、低溫電子斷層掃描和自動(dòng)TEM分析。




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德祥：4008 822 822

（經(jīng)銷商）
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