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瑞士TESA ETALON TCM200測量顯微鏡

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模塊化結構設計, 可根據需要進行光學長度測量或表面金相檢驗. 優化的照明系統, 精密滾珠軸承工作臺(150X100, 250X150mm 兩種), 線性金屬光柵尺組成的光電測量系統, 計算機內核的數據處理單元, RS232 數字輸出, 出廠前的檢驗合格證書.

詳細信息 在線詢價

主要特征

模塊化結構設計, 可根據需要進行光學長度測量或表面金相檢驗. 優化的照明系統, 精密滾珠軸承工作臺(150X100, 250X150mm 兩種), 線性金屬光柵尺組成的光電測量系統, 計算機內核的數據處理單元, RS232 數字輸出, 出廠前的檢驗合格證書.

  • 三坐標的非接觸測量,無測量力
  • 測量分辨率0.5μm
  • zui小的允許誤差保證了測量的高精度, 如150mm 長度測量的允許誤差僅為2.6μm
  • 寬大的測量空間, 長度方向沒有空間限制
  • 放大倍率達1000倍的表面結構檢驗, 光源照明充分
  • 視頻攝像系統可進一步進行圖像分析

主機及其配置

 

訂貨號/Order Number06839006068390070683900806839009
帶雙目鏡的主機····
35瓦透射冷光源····
90瓦反射冷光源····
測量范圍為150X100毫米的工作臺· · 
測量范圍為250X150毫米的工作臺 · ·
可進行Z軸測量··  
數據處理單元QUADRA-CHECK 220  ··
QUADRA-CHECK 230··  

 

 

技術指標

訂貨號06839006068390070683900806839009
測量范圍(mm)150 X 100250 X 150150 X 100250 X 150
軸向zui大允許誤差(1.8+0.005L) μm, (L in mm)(2.5+0.01L) μm (L in mm)(1.8+0.005L) μm (L in mm)(2.5+0.01L) μm (L in mm)
主機重量110kg140kg110kg140kg
外型尺寸(寬X高X深)356 X 662 X 540


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