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返回產品中心>產品描述：全數字便攜式超聲波探傷儀，它能夠快速便捷、無損傷、精確地進行工件內部多種缺陷(裂紋、夾雜、氣孔等)的檢測、定位、評估和診斷。既用于實驗室，也用于工程現場檢測。廣泛應用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領域的在役安全檢查與壽命評估。
滄州歐譜OU5500數字式超聲波探傷儀是一款真彩顯示全數字式超聲波探傷儀，它能夠快速便捷、無損傷、精確地進行工件內部多種缺陷(裂紋、夾雜、氣孔等)的檢測、定位、評估和診斷。既用于實驗室，也用于工程現場檢測。本儀器廣泛應用在各地特檢院、建設工程質量檢測站、鍋爐壓力容器制造、工程機械制造業、鋼鐵冶金業、鋼結構制造、船舶制造、石油天然氣裝備制造等需要缺陷檢測和質量控制的領域，也廣泛應用于航空航天、鐵路交通、鍋爐壓力容器等領域的在役安全檢查與壽命評估。
| 功能： ★ 探頭校準、曲線制作全程操作提示，人機互動，簡單易學； ★ DAC、AVG、彩色腐蝕Bscan、AWS等工具齊全； ★ 重復發射率：30-3000Hz精準調節，高速掃查，絕不漏檢； ★ 高清高亮真彩顯示，界面立體，對話框調節； ★ 超高信噪比，波形清晰穩定，特殊的抗干擾設計； ★ 高速實時探傷錄像，USB存儲無限擴展； ★ 藍牙無線傳輸，手機APP現場生成探傷報告，并實現打印； ★ IP65防護標準，合金與硅膠結合外殼，堅固耐用，防水防塵，阻尼支架任意； ★ 單電15小時連續工作，電池自帶獨立充電控制，兩塊電池無連續工作。 一、執行標準◆ 國家標準：1. JJG 746-2004《中華人民共和國國家計量檢定規程-超聲波探傷儀》 2. JB/T 10061-1999《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術條件》 3. JB/T 10062-1999《超聲探傷用探頭性能測試方法》 4. JB/T 9214-1999《A型脈沖反射式超聲探傷系統工作性能測試方法》 5. Z2344-93《金屬材料脈沖反射式超聲探傷檢驗方法》） ◆ 歐洲標準（EN12668）包括有三個部分： 1. EN12668-1 無損檢測-超聲檢驗設備的特性與認證-第1部分：儀器 2. EN12668-2 無損檢測-超聲檢驗設備的特性與認證-第2部分：探頭 3. EN12668-3 無損檢測-超聲檢驗設備的特性與認證-第3部分：綜合設備 |  |
| 手機APP現場生成探傷報告 |
1. 自動校準：一鍵式自動校準，操作非常便捷，自動測試探頭的“零點”、“K值”、“前沿”及材料的“聲速”；
2. 自動顯示缺陷回波位置（深度d、水平p、距離s、波幅、當量dB、孔徑ф值）；
3. 自動增益、回波包絡、峰值記憶功能提高了探傷效率；
4. φ值計算：直探頭鍛件探傷，找準缺陷波自動換算孔徑ф值,大平底自動計算；
5. 500個獨立探傷通道（可擴展），可自由輸入并存儲任意行業的探傷標準，現場探傷無需攜帶試塊；
6. 可自由存儲、回放1000幅A掃波形及數據（可擴展）；
7. 外接U盤，內部存儲可以隨時導出，也可以直接存儲無的探傷存儲文件；
8. 探傷錄像：探傷過程的動態錄像，通過外部U盤擴展，可以實現無的高質量錄像；
9. DAC、AVG自動生成并可以分段制作，取樣點不受限制，并可進行修正與補償；
10. B型掃描：實時掃查、顯示橫截面，可顯示工件缺陷形狀，使探測結果更直觀；
11. 13個內置探傷標準可調出，可以自由輸入任意行業標準；
12. 發射脈沖寬度和強度可調；
13. 藍牙模式與手機和計算機通訊，實現探傷報告管理；
14. 高性能安全環保鋰電池供電，標配可連續工作10小時以上，選配可增加電池容量到15小時；
15. 實時時鐘記錄：實時探傷日期、時間的跟蹤記錄，并存儲；
16. 數字抑制，不影響增益和線性；
17. 增益補償：對表面粗糙度、厚工件遠距離探傷等因素造成的Db衰減可進行修正；
18. 曲面修正：用于曲面工件探傷，可實時顯示缺陷周向位置和深度；
19. 角度和K值兩種輸入方式；
20. 回波次數分析；
21. 回波編碼：以不同顏色顯示1~9次回波，便于判斷缺陷位置；
22. 裂紋測高：利用端點衍射波自動測量、計算裂紋高度；
23. DAC聲光報警；
24. 屏幕的凍結和解凍；
25. AWS D1.1/D1.5: 美國焊接學會標準，為各類AWS焊縫檢測應用提供一個動態反射體“缺陷定級”；
26. 角度和K值兩種輸入方式；
27. 波形填充；
28. 電源狀態指示；
29. 捕捉標記；
30. 閘門內波形顏色標記；
31. 閘門內展寬；
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| 功能菜單 | 主界面 |
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| AVG曲線制作 | DAC制作，步步提示 |
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| 雙閘門 | 回波編碼 |
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| 彩色B掃描 | 探傷報告 |
| 檢測范圍 | 0-15米(鋼中、縱波)，透射30米 |
| 聲速范圍 | 100～20000m/s |
| 增益范圍 | 0dB～120dB |
| 重復發射率 | 30-3000Hz 可調節精準 |
| 動態范圍 | ≥38dB |
| 垂直線性誤差 | ≤2.5% |
| 水平線性誤差 | ≤0.2% |
| 分辨力 | >40dB(5P14) |
| 靈敏度余量 | >65dB(深200mmФ2平底孔) |
| 數字抑制 | (0～80)%，不影響線性與增益 |
| 探頭類型 | 直探頭、斜探頭、雙晶探頭、穿透探頭，爬波探頭，表面波探頭 |
| 閘門 | 進波門、失波門；單閘門、雙閘門 |
| 報警 | 蜂鳴報警，LED燈報警 |
| 脈沖幅度 | 100V、200V、300V、400V、500V分級選擇，適用探頭范圍廣 |
| 脈沖寬度 | 在(0.03～0.51)μs范圍內連續調節，以匹配不同頻率的探頭 |
| 探頭阻尼 | 50Ω、100Ω、150Ω、400Ω可選，滿足靈敏度及分辨率的不同工作要求 |
| 硬件實時采樣 | 高分辨率10位AD轉換器，采樣速度320MHz，波形高度保真 |
| 檢波方式 | 正半波、負半波、全波、射頻檢波 |
| 濾波頻帶 | 0.2～20 MHz |
| 閘門讀數 | 單閘門和雙閘門讀數方式可選；閘門內峰值讀數 |
| 總增益量 | 120 dB（設有0.1dB、1dB、2dB、6dB步進值） |
| 插頭插座 | BNC/LEMO可選 |
| 電源 | 直流（DC）9V |
| 待機時間 | ＞10小時，可擴展到15小時 |
| 外型尺寸 | 260×175×60 mm) |
| 重量 | 1.2Kkg |
| 環境溫度 | -10～50℃ |
| 相對濕度 | 20～95%RH |
注：以上指標是在探頭頻率為2.5MHz、檢波方式為全波的情況下所測得
| 名稱 | 數量 |
| 主機 | 1 |
| 鋰電池 | 1 |
| 充電器 | 1 |
| 接頭連接電纜 | 2 |
| 直探頭 | 1 |
| 斜探頭 | 1 |
| CSK-IA | 1 |
| 耦合劑 | 1 |
| 合格證 | 1 |
| 操作手冊 | 1 |
| 上位機軟件光盤 | 1 |
| 數據線 | 1 |
| 裝箱清單 | 1 |
| 保修卡 | 1 |
| 包裝箱 | 1 |
| 名稱 | 數量 |
| 超聲波探傷儀手機APP | 1 |
| 標準試塊 | 1 |
| 充電器 | 1 |
| 其他種類探頭及線纜 | 1 |
| 耦合劑 | 1 |
| 儀器背帶 | 1 |
| 藍牙打印機 | 1 |
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| 產品圖片 |  |  |  |
| 型號 | OU5000 | OU5100 | OU5500 |
| 探測范圍 | 0-6000mm | 0-10000mm | 0-15000mm |
| 聲速范圍 | 1000-15000 | 1000-18000 | 100-20000 |
| 動態范圍 | ＞30dB | ＞32dB | ＞38dB |
| 頻帶范圍 | 0.5-15M | 0.5-20M | 0.2-20M |
| 靈敏度余量 | ＞60dB | ＞62dB | ＞65dB |
| 垂直線性誤差 | ≤3% | ≤3% | ≤2.5% |
| 存儲容量 | 500 | 800 | 1000 |
| 通道個數 | 100 | 300 | 500 |
| Φ值計算 | ★ | ★ | ★ |
| 波峰記憶 | ★ | ★ | ★ |
| DAC | ★ | ★ | ★ |
| AVG | ★ | ★ | ★ |
| 自動校準 | ★ | ★ | ★ |
| 內置標準 | ★ | ★ | ★ |
| PC軟件 | ★ | ★ | ★ |
| 在線升級 | ★ | ★ | ★ |
| 曲面修正 | ★ | ★ | ★ |
| 探傷標準 | ★ | ★ | ★ |
| 脈沖幅度 | ★ | ★ | ★ |
| 脈沖寬度 | ★ | ★ | ★ |
| 發射頻率 | ★ | ★ | ★ |
| 閘門報警 | ★ | ★ | ★ |
| DAC報警 | ★ | ★ | ★ |
| 探傷錄像 | X | ★ | ★ |
| 可接U盤 | X | ★ | ★ |
| B掃描 | X | X | ★ |
| 藍牙無線傳輸 | X | X | ★ |
| 絕緣子測量 | X | X | ★ |
| 閘門 | 單閘門、雙閘門 | 單閘門、雙閘門 | 單閘門、雙閘門、進波門、失波門 |
| 探頭類型 | 直探頭、斜探頭、雙晶、穿透 | 直探頭、斜探頭、雙晶、穿透 | 直探頭、斜探頭、雙晶探頭、 穿透探頭，爬波探頭，表面波探頭 |
| 防護等級 | IP 60 | IP 60 | IP 65 |
| 試塊 | 無 | 2塊 | 2塊 |
| 工作時間 | 10小時 | 12小時 | 12小時 |
| 電池 | 1套 | 1套 | 1套 |
 |  |
| CSK-IA試塊 | CSK-IIIA試塊 |
 |  |
| CS-1-5試塊 | RB-2試塊 |
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