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QNIX4200/4500 涂層測厚儀

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德國 QNIX4200/4500 涂層測厚儀 是利用霍爾原理而設計的探頭與主機一體化金屬涂層測厚儀 只需較零,無需校準 零位穩定 4200Fe探頭,4500Fe/NFe探頭 的直流采樣技術

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德國 QNIX4200/4500 測厚儀
是利用霍爾原理而設計的探頭與主機一體化金屬涂層測厚儀
只需較零,無需校準
零位穩定
4200Fe探頭,4500Fe/NFe探頭
的直流采樣技術

 

技術參數:
磁性基體:Fe探頭(4200/4500) 非磁性基體 NFe探頭(4500)
測量范圍:Fe:0-3000um/NFe:0-2000um
精度:0-50μm:≤±1μm,
50-1000μm:≤±1.5%,
1000-2000μm:≤±2%,
1000-3000μm≤±3%
*小接觸面:10mm×10mm
*小曲率:凸、凹半徑:3mm/25mm
*小基體厚度:Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
溫度補償范圍:0-60度
顯示:LCD液晶
探頭:紅寶石固定式
電源:5號電池2節
尺 寸:110×60×27mm
重 量:110g


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