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簡介：霍爾效應測試系統HET-3依據范德堡法則測量材料的電運輸性能參數，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等，薄膜或薄層材料均可測量，可應用于所有半導體材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，Ga...

簡介：霍爾效應測試系統（霍爾效應測試儀）HET-3RT依據范德堡法則測量材料的電運輸性能參數，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等，薄膜或薄層材料均可測量，可應用于所有半導體材料，包括Si、ZnO、...

簡介：VDP6800霍爾效應測試儀除了用來判斷半導體材料之型態（n或p）以外，它也可應用于LED磊晶層的質量判定，也可以用來判斷在HEMT組件中二維電子氣是否形成，此未還可以用于太陽能電池片的制程輔助。...

簡介：上海伯東某科研客戶霍爾效應測試案例一,樣品:ITO氧化銦錫,標記為ITO1,ITO2,ITO3,樣品薄膜厚度:60-100nm,霍爾效應測試儀ITO薄膜測試案例

簡介：EcopiaHMS-3300高溫霍爾效應測試儀為霍爾效應測試儀的*。針對半導體材料的霍爾效應測試，Ecopia有多個系列、型號的產品*給不同要求的霍爾效應儀客戶。

簡介：EcopiaHMS-3000霍爾效應測試儀主要用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數、導電類型等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試儀是理...

簡介：產地：韓國Ecopia；型號：HMS-5000，HMS-5300，HMS-5500；主要型號:EcopiaHMS-5000全自動變溫霍爾效應測試儀1/HMS-5000：溫度范圍80K-350K；2...

簡介：上海伯東英國NanoMagnetics儀器HEMS霍爾效應測量系統,多樣品實驗,非常適合材料研究等應用.

簡介：上海伯東英國NanoMagnetics儀器ezHEMS霍爾效應測量系統為VanderPauw和HallBar測量提供了一個創新的解決方案.ezHEMS霍爾效應測量*的設計使得用戶能夠以分辨率和精度...