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面議750
簡介:專業測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態時間參數特性,測試范圍可達3500V4000A
深圳華普通用科技有限公司 會員等級: 產地:我要詢價 -
面議1972
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上海屹持光電技術有限公司 會員等級: 產地:我要詢價 -
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面議3190
簡介:SPM300半導體參數分析儀基于拉曼光譜法的半導體參數測試儀,具有非接觸、無損檢測、特異性高的優點。可以對半導體材料進行微區分析,空間分辨率<800nm(典型值),也可以對樣品進行掃描從而對整個面...
北京卓立漢光儀器有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價 -
面議3190
簡介:半導體參數分析儀SPM600系列是一款專用于半導體材料光電測試的系統。其功能全面,提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應速率測試。40μm探測光斑,實現百微米級探測器的...
北京卓立漢光儀器有限公司 會員等級: 產地:北京市我要詢價