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簡介：真圓度圓柱度測定機EC1550H/EC1650H·滿載具有高精度及快速的測定機能

簡介：真圓度圓柱度測定機EC600·適用于生產線上的輕巧型

簡介：布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設計，可以提供的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于4?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。通過整合其行...

簡介：Alpha-StepD-300探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

簡介：KLA是半導體在線檢測設備市場較大的供應商，在半導體、數(shù)據(jù)存儲、MEMS、太陽能、光電子以及其他領域中有著不俗的*。P-17是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術積累和不斷迭代更新，集合眾...

簡介：KLA是半導體在線檢測設備市場較大的供應商，在半導體、數(shù)據(jù)存儲、MEMS、太陽能、光電子以及其他領域中有著不俗的*。P-7是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術積累和不斷迭代更新，集合眾多...

簡介：KLA是半導體在線檢測設備市場較大的供應商，在半導體、數(shù)據(jù)存儲、MEMS、太陽能、光電子以及其他領域中有著不俗的力量。Alpha-StepD-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的...

簡介：KLA接觸式探針臺階儀D-600，可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應力。且其具有5.0A(1σ)或0.1%臺階高度重復性以及亞埃級的分辨率。

簡介：產品描述：薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距離，而實際上，薄膜的表面是不平整，不連續(xù)的，且薄膜內部存在著針孔、微裂紋、纖維絲、雜質、晶格缺陷和表面吸附分子等。

簡介：產品描述：DektakXTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品