ELEGRE X射線能量色散譜儀（EDS）是北京意力博通技術發展有限公司開發的通用型產品，可以配接多種型號的Si(Li)探測器,適用于SEM和TEM快速元素識別及定量分析。運行在MS WINDOWS操作系統中的ELEGRE中文應用界面，采用快捷按鈕和菜單方式操作，簡便，快速，易用。

主要功能：

1．多種高電壓輸出選擇,溫度報警和探測器自動保護(對于沒有溫度控制裝置的探測器此功能不起作用)。

2．高性能模擬脈沖處理器和高速ADC。具有零點穩定、單峰自動增益校準、采集速率選擇等。

3．多達4096道多道分析器。顯示0—40KeV全部能量范圍的譜峰，即適用于SEM，又適用于TEM。另外，還具有4通道實時元素線、面分布輸出。

4．手動、自動元素定性分析軟件。手動定性工具為有經驗的分析人員精確鑒別元素和修改元素值提供方便；自動定性能夠在1秒之內快速識別和標記全部元素。

5．有標樣及無標樣定量分析軟件。采用高帽濾波方法，zui小二乘峰擬合技術，扣除背底，剝離重疊峰并做基底修正（PRZ，ZAF等修正方法）。

6．譜處理軟件。

   a. 多種譜顯示方式： 自動譜峰高度顯示，自定義譜峰高度顯示，對數譜峰高度顯示，自動譜峰寬度顯示，自定義譜峰寬度顯示，前景譜和背景譜比較顯示。便于譜的觀察、比較，處理，重疊，卷動，擴大。

  b. 兩種感興趣區設置方式： 鼠標拖動設置任意寬度的ROI；元素周期表方式自動設置ROI寬度。

7．編輯和輸出軟件。可直接將采集到的信息和分析結果保存成Word文檔，編輯報告，驅動噴墨或激光打印機進行定量、定性結果打印以及繪制譜圖等。