450kV的*微焦點(diǎn)射線源
XTH450LC，應(yīng)用于渦輪葉片測定以及眾多中小型鑄件的無損檢測領(lǐng)域，并慢慢成為一種新的重要檢測標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)型號的機(jī)器核心450kV微焦點(diǎn)射線管源擁有優(yōu)異的解析度以及精度。搭配晶體光柵的高性能線陣探測器更是讓曲面效應(yīng)以及射線散射現(xiàn)象等得到根本解決，在渦輪葉片以及其他眾多金屬零件的檢測中得到近乎的效果。

主要特點(diǎn)

• 獨(dú)立的450kV微焦點(diǎn)射線源
• 可掃描樣品的尺寸達(dá)到直徑500mm，高度600mm
• 可走入式的大鉛房以及大型的樣品艙門讓樣品的放置以及維護(hù)檢測變得更加方便
• 五軸樣品操作臺載重可達(dá)100kg
• 高效率的線陣探測器與面陣平板探測器可以同時(shí)搭載以滿足不同需求。（選配）
• 專門為渦輪葉片定制的質(zhì)量合格判斷應(yīng)用程序。

引進(jìn)功能

• 將靈活性整合到一個(gè)系統(tǒng)里:X射線快速可視化檢測，CT重構(gòu)精密解析
• 快速獲取高品質(zhì)圖像
• 人機(jī)交互式操作桿導(dǎo)航界面使用快速直觀
• 高清晰度數(shù)字圖像與圖像處理
• 不需要特別外加防護(hù)的完備安全系統(tǒng)
• 通用于業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的后處理應(yīng)用格式

用途

• 渦輪葉片的內(nèi)部構(gòu)造與詳細(xì)分析
• 渦輪葉片的合格與否自動判定
• 幾十微米級別要求的金屬零件跟鑄件等的精度檢測

XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測，
帶有高功率450kV微焦點(diǎn)X射線源

Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測量和中小鑄件NDT檢測的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺功能強(qiáng)大的設(shè)備的核心部件是一個(gè)450kV微焦點(diǎn)源，可提供超高分辨率和超高精度。

彎曲的線性陣列探測器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測器是一臺非常靈活的設(shè)備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等

優(yōu)點(diǎn) 可靈活地整合在單個(gè)系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測，CT可用于深入分析
快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像
高分辨率數(shù)字成像和處理
嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志

特性
*的450kV微焦點(diǎn)源
測量體積可達(dá)600mm直徑和600mm高度
高效線性探測器，>80%量子檢測有效率
五軸*可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌
特別適用于渦輪葉片的自動通過/不通過檢測

應(yīng)用
渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析
葉片的自動通過/不通過檢測
需要微米精度的高密度部件檢測（例如金屬件、鑄件）