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單納米粒徑測定裝置IG-1000

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產品詳情儀器簡介:IG-1000是單納米粒徑測定裝置,用于測定納米粒子,獲得了2009Pittcon大獎

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產品詳情

儀器簡介:

IG-1000是單納米粒徑測定裝置,用于測定納米粒子,獲得了2009Pittcon大獎。與以往粒度測定儀器原理不同,IG方法(Induced Grating method)是島津公司開發的無二的納米粒徑測定技術。IG-1000采用介電電泳原理,介電電泳ON時,形成部分的高(低)粒子濃度;介電電泳OFF時, 粒子擴散恢復為原始狀態;由介電電泳力使粒子構成衍射光柵,擴散后的濃度降低導致衍射光強度降低,從衍射光強度的時間變化可以得到粒子的擴散系數,進而得到粒子的粒徑。 

光源:半導體激光(波長785nm) 
測定原理:誘導衍射光柵法 
測量范圍:0.5~200nm 
測定體積:250~300uL 

至單一納米顆粒區域

IG-1000榮獲Pittcon2009“撰稿人獎”銅獎
IG-1000 單納米粒度測定裝置:超越單納米區域,深入亞納米區域。
 
該儀器采用誘導光柵(IG)方法,這種全新的方法基于利用雙向電泳和衍射光現象測量來實現納米范圍粒度的測定。
 
對于納米顆粒的測量,常規方法采用動態光散射方法,但對于小于100納米的粒子,光將被分散,強度急驟減弱。此外,在單納米粒度區域(例如,粒度小于10納米),物理限制使得很難探測到散射光,因此粒度的測量也會變得困難。IG方法不使用散射光,所以它不受物理限制,并且它不需要輸入折射率作為測量條件。因此它使得納米粒子的測量變得簡易,并具有高靈敏度,尤其是對單納米顆粒粒子分析非常有效。
 
單納米粒子的高靈敏度分析
 
誘導光柵技術使用粒子形成的衍射光柵發射出的衍射光,而不是粒子發射出散射光,因此,即便在單一納米顆粒區域,也可獲得充足的信噪比,重復性好,測量穩定。
 
耐污染
 
新的測量原理耐受污染,即使樣品混雜了少量異物,要分析的微粒信息也應可靠有效。這意味著以去除粗顆粒為目的樣品過濾是不需要的。
 
高重現性
 
穩定的數據。特別是粒度小于10 nm的微粒具有高重復性,避免了單納米顆粒區域內顆粒分析的不確定性和模糊性。同時,可利用衍射光的原始數據進行測量間的比較,藉此可粗輕松的驗證測量結果。


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