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大塚電子zeta電位測量儀ELSZ

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zeta電位·粒徑·分子量測量系統大塚ELSZ-2000可測量低濃度溶液~高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量

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zeta電位·粒徑·分子量測量系統


大塚ELSZ-2000可測量低濃度溶液~高濃度溶液的ZETA電位、粒徑及分子量。
粒徑測量范圍(0.6nm~10μm),濃度范圍(0.00001%~40%)。實測電氣滲透流,高精度的ZETA電位測量,最小容量是130μL~的一次性樣品池。另外在0~90℃的大的溫度范圍內,測量自動溫度的梯度空間,分析變性、相轉移溫度。


產品特點:

使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時間
通過測量自動溫度梯度空間,可分析出變性、相轉移溫度
可測量0~90℃大范圍內的溫度
追加了大范圍的分子量測量及解析功能
懸濁類高濃度樣品的粒徑、ZETA電位的測量
實測cell內的電氣滲透流,解析plot,提供高精度的ZETA 電位測量結果
高鹽濃度溶液的ZETA電位測量
小面積樣品的平板ZETA電位測量



用途:

適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫學領域中,除了微粒子外,膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。

新功能性材料領域

燃料電池相關(碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬)
生物納米相關(納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子)、納米氣泡等


陶瓷、色材工業領域

陶瓷(二氧化硅、氧化鋁、氧化鈦等)
無極膠體溶液的表面改質、分散、凝集控制
顏料(炭黑、有機顏料)的分散、凝集控制
懸濁狀樣品


半導體領域

查明附著在硅體晶圓的異物的結構
研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
CMP懸濁液


高分子、化學工業領域

Emulsion(塗料、膠水)的分散、凝集控制、乳膠的表面改質(醫藥 用、工業 用)
高分子電解質(聚乙烯磺酸鹽、聚碳酸等)功能性的研究、功能性納米粒子
紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究


醫藥 品、食品工業 領域

Emulsion(食品、香料、醫療、化妝品)的分散、凝集控制、蛋白質的功能性
脂質體、囊泡的分散、凝集控制、界面活性剤(膠粒)的功能性


設備參數:

ELSZ-2000Z測量原理: 雷射都卜勒法(Laser Doppler)
光源: 高功率、高穩定性半導體鐳射
感光元件: 高感度APD
樣品容器: 標準樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器
溫度范圍: 0 ~ 90℃ (具備梯度功能)
電源規格: 100V ± 10% 250VA,50 / 60 Hz
尺寸: 380(W) × 600(D) × 210(H)mm
重量: 約22kg



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