產品介紹輕便、易用、可靠——SIUI新一代大功率探傷儀方波大功率發射穿透力強寬頻帶高分辨率檢出率高性能強勁:高壓方波發射、穿透力強
輕便、易用、可靠
——SIUI新一代大功率探傷儀
方波大功率發射 穿透力強
寬頻帶高分辨率 檢出率高
性能強勁:高壓方波發射、穿透力強,滿足大型鑄、鍛件探傷的需求
小巧輕便:整機(含電池)重量約1.25Kg,高空、野外作業輕松自如
操作簡易:按鍵少,定義明確,實現單手握持操作
防塵防水:按IP65防護標準設計,適應復雜的工業探傷環境
超低功耗:標配鋰聚合物電池,連續工作時間長達7小時
發射脈沖電壓50~500V可調,發射脈沖為尖脈沖或方波,方波寬度51~850ns可調
工作頻率范圍0.5 ~ 10 MHz,靈敏度余量≥70 dB,分別突顯寬頻帶和高靈敏度的優點
20 ~ 2000Hz的脈沖重復頻率,步進20Hz,避免探傷過程中出現混響信號
極限采樣速率240MHz,測量分辨率0.1mm
外部U盤無限或內部3分鐘動態記錄功能,實現掃查過程全記錄
RF(射頻)回波功能,對于薄壁材料測量或學術研究和定性分析有很大幫助
自動增益控制AGC,配合峰值回波、圖像凍結功能,快速確定缺陷極限波,探傷更高效
AVG曲線,使用已知平底孔或大平底回波,制作出3條不同當量的曲線
DAC曲線,配合回波比較功能,使不同距離不同波幅的回波定量更簡便
多種不同的顯示顏色搭配方案,滿足不同使用場景和習慣的需求
存儲300組曲線及波形,滿足不同探傷工藝應用及探傷數據存檔的需求
數據編輯和管理
探傷回波、曲線、參數等,或由USB接口經U盤將數據導入計算機,實現探傷報告的編輯和數據的管理
DAC 曲線
DAC 曲線功能令缺陷評價更加輕松、方便。
AVG 曲線
通過取已知大平底或平底孔回波為參考,自動生成AVG曲線。
大鍛件探傷
大探測范圍,高靈敏度余量,滿足大鍛件或粗晶體材料的檢測。
(圖示為400mmΦ2平底孔鍛件試塊的回波)
焊縫檢測模擬圖
直接指出缺陷所在區域,位置一目了然
(圖示為厚度10mm平板焊縫缺陷位置)
項 目 | 單 位 | 技 術 數 據 |
衰減器誤差 | dB | 每12dB ± 1dB |
垂直線性誤差 | % | ≤3 |
水平線性誤差 | % | ≤0.5 |
動態范圍 | dB | ≥30 |
探傷靈敏度余量 | dB | ≥70(2.5Z20N探頭) |
遠區分辨力 | dB | ≥26 |
電噪聲電平 | % | ≤10(1 ~ 4MHz) |
等效輸入噪聲 | V/√Hz | <80×10-9 |
工作頻率范圍 | MHz | 0.5 ~ 10,7檔可調 |
脈沖重復頻率 | Hz | 20 ~ 2000,步進20Hz |
脈沖電壓 | V | 50~500可調 |
脈沖寬度 | ns | 尖脈沖或方波,方波寬度51~850ns可調 |
薄板分辨力 | mm | ≤3(5C10N探頭) |
探測范圍 | mm | 0 ~ 13000(鋼縱波) |
脈沖移位 | mm | -10 ~ 1000(鋼縱波) |
探頭零點 | μs | 0 ~ 200 |
材料聲速 | m/s | 300 ~ 15000 |
阻尼 | Ω | 25、75 、200、1000四檔可調 |
抑制 | % | 0 ~ 80 |
檢波方式 | 負向檢波/正向檢波/雙向檢波/濾波/RF | |
增益調節 | dB | 0 ~ 110:分0.5/2/6/12步進調節 |
DAC功能 | 用于制作、設置和應用DAC曲線 | |
AVG功能 | 用于制作、設置和應用AVG曲線 | |
截圖功能 | 將儀器屏幕存為圖片并輸出到U盤中 | |
轉存功能 | 通過USB接口把儀器內部數據集轉存到U盤中 |
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