原理1.標(biāo)準(zhǔn)器：采用高精度光柵系統(tǒng)作為反饋X軸向距離的標(biāo)準(zhǔn)器

原理
1. 標(biāo)準(zhǔn)器：采用高精度光柵系統(tǒng)作為反饋X 軸向距離的標(biāo)準(zhǔn)器；
2. 測量原理：利用頭座的測力并使用測帽球面（針對(duì)平面物體測量-如量塊，校對(duì)桿，千分尺，卡規(guī)等）接觸被測平面，五軸工作臺(tái)的水平方向浮動(dòng)，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；從而測得兩測帽球面頂點(diǎn)間的距離；利用頭座的測力并使用平面測帽的平面（針對(duì)圓周外徑測量，如光面塞規(guī)，針規(guī)及棒材）接觸被測平面，五軸工作臺(tái)的水平方向浮動(dòng)，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；從而 測得兩測帽平面間的距離；利用頭座測力并使用平面測帽接觸三針使三針與螺紋塞規(guī)螺紋槽中徑截面點(diǎn)接觸，得到平面測帽間的距離，并加上三針針徑，使用三針法計(jì)算得到螺紋單一中徑；利用T 型測球與螺紋環(huán)規(guī)內(nèi)螺紋槽中徑截面點(diǎn)分別接觸，得到一組螺紋中截面中徑數(shù)據(jù)，并通過三針法計(jì)算得到螺紋單一中徑；
3. 數(shù)據(jù)修正：通過測力修正系統(tǒng)及溫度修正系統(tǒng)將X 軸向光柵反饋的數(shù)據(jù)進(jìn)行修正得到正確的X 軸標(biāo)準(zhǔn)長度數(shù)值；
4. 軟件標(biāo)準(zhǔn)及數(shù)據(jù)計(jì)算：軟件系統(tǒng)內(nèi)置多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，并通過對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)計(jì)算得到檢定所需數(shù)據(jù)（如螺紋的單一中徑，量塊的標(biāo)準(zhǔn)長度，光面規(guī)的真值等。
功能
測長儀具有精度高、使用方便、功能強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，能夠檢定精密量具、精密量規(guī)，如塊規(guī)、環(huán)規(guī)、塞規(guī)、卡規(guī)、螺紋規(guī)、花鍵規(guī)、表類、尺類。還可以檢測各種精密工件內(nèi)外尺寸，如齒輪、花鍵、校對(duì)棒、非標(biāo)量規(guī)等，具有通用性強(qiáng)的特點(diǎn)。
應(yīng)用
測長儀廣泛應(yīng)用于機(jī)械制造業(yè)、工具、量具制造業(yè)及儀器儀表制造業(yè)等企業(yè)的計(jì)量室和各級(jí)專業(yè)計(jì)量鑒定部門及制造工具、量具或加工精密零件的車間所常用的光學(xué)計(jì)量儀器。 主要測量對(duì)象包括：光滑圓柱形零件，如軸、孔、塞規(guī)、環(huán)規(guī)等；內(nèi)螺紋、外螺紋的中徑如螺紋塞規(guī)、螺紋環(huán)規(guī)等帶平行平面的零件，如卡規(guī)、量棒、較低等級(jí)的量塊等。
發(fā)展及展望
測長儀從1945 年發(fā)展，測量越來越為精確，更經(jīng)濟(jì)，操作更方便，將常規(guī)的測量與臺(tái)式計(jì)算機(jī)和組成計(jì)算機(jī)輔助測試工作站的微機(jī)相連，滿足了自動(dòng)數(shù)據(jù)處理，全而記錄以及測量結(jié)果歸檔等要求。的電子技術(shù)，增量式測量系統(tǒng)和集成化的微處理機(jī)，這些特點(diǎn)使當(dāng)今的測長儀成為高精度的測量工具。60 年來的實(shí)踐證明，迄今為止測長儀沒有停止發(fā)展，更進(jìn)一步的改型將達(dá)到用戶要求并更加精密。
日常維護(hù)及使用注意事項(xiàng)
1、安裝測長儀的房間必須與灰塵、振動(dòng)、腐蝕性氣體及潮氣等隔離，房間盡可能遠(yuǎn)離生產(chǎn)現(xiàn)場，室內(nèi)必須有恒溫裝置，以維持室內(nèi)20±0.5℃左右的溫度。相對(duì)濕度應(yīng)不超過60%，否則光學(xué)零件容易生霉，儀器也不能置于暖氣水管等熱源附近。
2、凡每次使用完畢后，必須在工作臺(tái)、測帽以及其它附屬設(shè)備的表面用汽油清洗，然后涂上無酸凡士林。
3、如有必要清洗光學(xué)零件表面時(shí)，則可先用清潔、脫脂的軟細(xì)毛筆拭去灰塵，然后用軟細(xì)布（經(jīng)過脫脂及清洗的）或脫脂棉花蘸上酒精（30%）和（70%）的混合劑輕拭不潔之處。
4、儀器在不使用時(shí)，附件應(yīng)放在附件箱中或干燥缸中，儀器本體則應(yīng)用防塵罩將其遮起來。