SS-700

亞微米電路/射頻測試針座

SS-100

亞微米電路/射頻測試針座

SS-40-T

電路/射頻測試針座

SS-40

I/O Pad/ Electro -Optics光電測試針座

特點(diǎn)

亞微米工藝集成電路電路測試

線性，無后座力移動

可以配合同軸/三軸探針夾具使用

夾具可以30度范圍傾仰

可以使用鎢探針

可以配置為東/南/西/北四個方向的射頻針座

射頻測試能力：直流到 40GHz ~ 120GHz

可以配合使用校準(zhǔn)片和校準(zhǔn)軟件

探頭接口和線纜45度連接，無需L型轉(zhuǎn)接頭

探頭可以拆卸維修

帶射頻測試線固定裝置

亞微米工藝集成電路電路測試

線性，無后座力移動

可以配合同軸/三軸探針夾具使用

夾具可以30度范圍傾仰

可以使用鎢探針

可以配置為東/南/西/北四個方向的射頻針座

射頻測試能力：直流到 40GHz ~ 120GHz

可以配合使用校準(zhǔn)片和校準(zhǔn)軟件

探頭接口和線纜45度連接，無需L型轉(zhuǎn)接頭

探頭可以拆卸維修

帶射頻測試線固定裝置

線性移動

I/O Pad 點(diǎn)測

電路點(diǎn)測

射頻測試

較小的體積

可以配合同軸/三軸探針夾具使用

價格實(shí)惠

線性移動

I/O Pad 點(diǎn)測

光電器件點(diǎn)測

體積小

可以配合同軸/三軸探針夾具使用

規(guī)格

X-Y-Z方向行程

8 x 8 x 8mm

線性移動

絲杠精度

700 Thread / Inch

移動精度

0.1 微米

X-Y-Z移動行程

12 x 12x 12mm

線性移動

絲杠精度

100 Thread / Inch

移動精度

0.7 微米

X-Y-Z移動行程

12 x 12 x 12mm

線性移動

絲杠精度

80 Thread / Inch

移動精度

2 微米

X-Y-Z移動行程

12 x 12 x 12mm 

線性移動

絲杠精度

40 Thread / Inch

移動精度

10 微米

尺寸（mm）、重量（克）

100長 x 140寬 x100高

重 1100 克

90長 x 130寬 x 90高

重700 克

52寬 x 96長 x 76高

重 350 克

38寬x 62長 x 45高

重200 克 

附件

三軸探針夾具

同軸探針夾具

磁力底座，磁力翻轉(zhuǎn)底座，真空底座

電動針座升級

射頻探頭

光纖探頭

低電流/電容點(diǎn)測配件

高壓配件