3D相機是基于條紋投影的三維面形測量技術，條紋投影技術是一種非相干光學全場測量技術。在此基礎上開發的3D照相機主要用于對任何材質的漫反射表面進行的高精度的三維坐標測量。

   該系統主要是由一個LCD投影單元和一個高分辨率的CCD照相機組成，連同電子控制單元一起被集成于一個緊湊的鋁制外殼中。測量時LCD上顯示由計算機生成的條紋模式，有光學系統將條紋投影到物體表面，CCD照相機則有從另一個方向觀察被測物體表面由于形狀的調制作用而變形的條紋圖像。采用的條紋相移技術，經條紋位相信息解調并利用系統的幾何關系，就可直接得到物體面形的三維坐標分布。

   得益于VEW公司新開發的光學成像設備校準技術，3D相機采用短焦距的物鏡鏡頭，可對張角超過90度的范圍進行測量，同時為了盡量減少光學系統的遮擋效應，投影和成像系統采用了近平行光軸設計。由于投影單元的高亮度，在橫向達2×2米的范圍內仍然有足夠的照明度。系統的縱向測量范圍為最近離照相機20cm到最遠4m的距離。在離照相機100cm的工作距離上，系統的坐標分辨率可達0.1mm。

    3D照相機采用了精密的幾何校準技術，對合適的物體表面，其三圍坐標測量精度也可達0.1mm。校準工具可隨照相機一起提供給用戶。使其可隨時進行系統幾何校準。目前，該系統已應用于飛機外表形變評估，建筑材料的形貌測量，汽車部件三維測量等領域。

技術參數

鋁制外殼 ：  200×220×140mm   外加三角穩定支架和連接適配器

測量范圍（對角）： 200-1500mm

坐標分辨率 ：  深度方向：測量范圍/10000，橫向：測量范圍/CCD像素

測量精度 ：>0.1mm（根據物體表面情況和測量范圍而不同）

測量時間 ：1s-600s（根據期望的分辨率和精度，用戶可調節）

投影單元

單像素可尋址位 ：12Bit

像素值 ：1024×768pixel

接口： DVI

光源 ：UHP燈160W

物鏡：F 12..5