斜邊用于分辨率測量
微距測試卡TE274設計用于分析在微距模式下單反相機系統以及小型相機的微距鏡頭的分辨率和失真。
微距測試卡TE274由兩部分組成：
斜邊用于分辨率測量
該測試卡包含15個斜邊結構，每個具有兩個垂直和兩個水平
邊緣和聚焦輔助在中心。斜邊結構傾斜5°并且具有大約97％的調制。
斜邊以一種方式布置，以在圖像高度（3：2縱橫比）的30％，45％，60％和75％處遞送軸分辨率和分辨率。
交叉圖用于失真測量
白色背景上的黑色十字用于確定透鏡幾何畸變（LGD）和色差。
將微距測試卡放在相機外的桌子上。從測試卡的上部（斜邊）開始，將框架中的測試卡滑動到向下位置。調整相機和測試卡之間的距離，直到斜邊圖表填滿圖像高度。拍攝圖像后，將圖框滑動到上邊框。現在失真部分恰好在用于拍攝圖像的位置。不需要重新調整或重新聚焦。
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