Tektronix泰克 誤碼率測(cè)試儀BSX320引入了能夠支持第四代及以上新興標(biāo)準(zhǔn)的接收機(jī)測(cè)試平臺(tái)。通過(guò)增加強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和內(nèi)置發(fā)射機(jī)均衡技術(shù)，BERTScope 支持基于協(xié)議的握手功能，并與被測(cè)器件 (DUT) 同步，包括交互式鏈路訓(xùn)練，支持 32 Gb/s 的數(shù)據(jù)速率。Tektronix泰克 誤碼率測(cè)試儀BSX320縮短了調(diào)試物理層和鏈路訓(xùn)練問(wèn)題所需的時(shí)間，為滿足各種標(biāo)準(zhǔn)提供了速的途徑。
 

Tektronix泰克 誤碼率測(cè)試儀BSX320主要性能指標(biāo)

• 高達(dá) 32 Gb/s 的碼型發(fā)生和誤碼分析功能
• 選配內(nèi)置 4 階發(fā)射機(jī)均衡功能，支持交互式鏈路訓(xùn)練
• 面向協(xié)議和面向位的多鏈碼型定序技術(shù)，增強(qiáng)型碼型/序列編輯器
• 激勵(lì)響應(yīng)反饋，用戶自定義檢測(cè)器碼型匹配
• 已獲的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location Analysis™ ），超越BER測(cè)量，分析關(guān)聯(lián)度和確定性錯(cuò)誤碼型，深入了解誤碼根源
• 選配前向糾錯(cuò)分析技術(shù)，根據(jù)測(cè)得誤碼位置碼型仿真FEC后誤碼率
• 集成眼圖和 BER 關(guān)聯(lián)功能，包括模板測(cè)試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓
• 選配抖動(dòng)分離及定位 (Jitter Map) 系統(tǒng)，提供豐富的抖動(dòng)解析 – 支持長(zhǎng)碼型（如 PRBS-31）

Tektronix泰克 誤碼率測(cè)試儀BSX320主要特點(diǎn)

• 為接收機(jī)壓力測(cè)試、調(diào)試和一致性測(cè)試提供單一解決方案
• 測(cè)試第三代和第四代標(biāo)準(zhǔn)，包括 PCIe、SAS 和 USB3.1 及各種自主開(kāi)發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)
• 超過(guò) 16 Gb/s 的 DUT 握手功能，滿足環(huán)回發(fā)起和自適應(yīng)鏈路訓(xùn)練的接收機(jī)測(cè)試要求，支持 PCIe 等主要標(biāo)準(zhǔn)
• 協(xié)議識(shí)別碼型發(fā)生和誤碼檢測(cè)，支持靈活的激勵(lì)響應(yīng)編程能力，調(diào)試握手問(wèn)題。
• 前向糾錯(cuò)(FEC)仿真選項(xiàng)，可以測(cè)量糾錯(cuò)前和糾錯(cuò)后BER，支持常用的Reed-Solomon FEC代碼。
• 為各種主要標(biāo)準(zhǔn)提供了校準(zhǔn)和測(cè)試自動(dòng)化軟件

Tektronix泰克 誤碼率測(cè)試儀BSX320應(yīng)用

• 設(shè)計(jì)驗(yàn)證，包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析
• 測(cè)試高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能
• 設(shè)計(jì)/驗(yàn)證高速 I/O 組件和系統(tǒng)，包括 DUT 握手
• 信號(hào)完整性分析 – 模板測(cè)試、峰值抖動(dòng)、BER輪廓、抖動(dòng)分離及定位（Jitter Map)和前向糾錯(cuò)仿真