JADE智能化XRD分析軟件JADEIntelligentXRDAnalysisSoftwarMaterialsData(MDI)總部位于美國加利福尼亞州，幾十年來專注于開發XRD分析軟件

JADE — 智能化XRD分析軟件

JADE — Intelligent XRD Analysis Softwar

   Materials Data (MDI)總部位于美國加利福尼亞州，幾十年來專注于開發XRD分析軟件。自主開發的JADE采用全譜擬合和Rietveld方法來分析XRD數據，并且很早使用結構數據創建模擬衍射圖，向用戶展示了其重要性。JADE界面友好，功能強大且使用方便，是分析XRD數據的好的選擇。現在，JADE已經遍布世界各地的X射線粉末衍射實驗室并作為標準的XRD分析軟件，在科學研究、教育及資源探索方面得到廣泛的應用。JADE兼容不同品牌衍射儀收集的數據，讓處理和分析XRD數據的過程變得更加簡單便捷，為用戶提供準確、中立結果。我們致力于推進XRD分析方法，并繼續為XRD領域開發功能更強大的軟件。

 JADE — 科學家信賴的產品

JADE — Scientist Trust  XRD Applications

智能化分析 — 分析結果更快、更準  

• JADE采用啟發式方法自動進行分析，自動檢測文件格式                                                    

• JADE可自動擬合背景、尋峰、鑒定物相以及標定品質因數（FOM）

• JADE的“一鍵式全譜擬合分析”功能十分強大，速度驚人，定性定量分析結果更好

• JADE可批量進行Rietveld分析，分析結果可直接用于文章發表或學術報告

• JADE Pro采用傅立葉電荷圖快速確定晶體結構

• JADE適配于不同品牌的衍射儀，有效統一分析數據
• JADE提供新數據的檢索方法和數據分析方法，使您的設備繼續保持生命力
• JADE可兼容大部分晶體學數據庫，包括PDF數據庫，NIST, AMCSD*. Amc, CIF, MOL, PDB等，支持用戶自定義數據庫

獨立于衍射儀 — 無偏見的分析結果

• 獨立于硬件制造商，專注于開發XRD數據分析應用軟件
• JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式，包括同步輻射、理學, 布魯克 (Siemens), 馬爾文帕納科 (Philips), ARL 賽默飛 (Scintag), 島津, Proto, XOS, X-Y格式以及其他格式的數據
• 對任何衍射儀測試的數據均可得到無偏見的分析結果，致力于追求最準確的、無偏見的XRD分析和結果

獨立于衍射儀 — 無偏見的分析結果

• 獨立于硬件制造商，專注于開發XRD數據分析應用軟件
• JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式，包括同步輻射、理學, 布魯克 (Siemens), 馬爾文帕納科 (Philips), ARL 賽默飛 (Scintag), 島津, Proto, XOS, X-Y格式以及其他格式的數據
• 對任何衍射儀測試的數據均可得到無偏見的分析結果，致力于追求最準確的、無偏見的XRD分析和結果

靈活的網絡 — 易于分享，的選擇

• JADE 系列產品均使用電子，以便在不同電腦上運行
• JADE Pro 可在局域網內輕松訪問，共享使用
• 用戶可自定義個性化JADE 界面
• 同時購買多個使用權限，可享更多折扣

JADE Standard — 標準版

JADE Standard可選配置（版權）

Level 1      基礎版

Level 2A   基礎版 + S/M（物相檢索）

Level 2B   基礎版 + WPF（全譜擬合）

Level 3      基礎版 + S/M（物相檢-word; pointer-events: auto; font-style: normal; color: #404040; background-color: initial; line-height: 26px; text-shadow: none;"> + WPF（全譜擬合）

JADE Standard 模塊功能

JADE Standard — 基礎版

• 直觀、先進的用戶界面
• 可讀取所有衍射儀生成的文件
• 智能導入多列數據
• 合并多段衍射圖
• 一維、二維和三維衍射圖重疊顯示
• 類似衍射圖文件
• 支持多軸/多波長
• 支持自變/固定狹縫數據
• 零點偏移和θ校準
• 背景擬合/批量擬合/去除
• 自動尋峰和多條件檢索
• 多種報告和打印選項
• 內置入門數據庫
• 可訪問ICDD PDF和其它數據庫
• 多種數據庫檢索選項
• 可視化晶體結構和衍射晶面
• 晶體結構模擬衍射圖
• 獨立分析師/共享工作環境
• 支持用于檢索/匹配或全譜擬合的自定義d-I% 列表
• 峰型擬合與RIR定量分析
• 批量擬合峰型

S/M — 物相檢索

• 基于全譜的檢索/匹配
• 元素和晶胞參數用于檢索/匹配(S/M)
• 定固溶體和同晶型物相
• 擇優取向數據和單峰的檢索/匹配
• • 快速有效鑒定低含量物相
• • 結構數據庫管理器

WPF — 全譜擬合

• 全譜擬合- Rietveld精修(不限定物相)
• 優質的定量分析
• 一體化的定性定量分析
• 在分析中自動導入結構參數
• 在分析中同時使用有結構參數和無結構參數的物相
• 在多物相分析中，連接和約束晶胞參數，物相峰寬參數等
• 自定義d-I% (hkl, FWHM, Skew)擬合黏土物相
• 支持March和球面諧波晶體取向函數
• 確定無定形物相含量(有無內部重量標準均可)
• 原子占有率和鍵長約束