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X熒光光譜鍍層測厚儀XU-100

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產品簡介:XU-100高性價比型膜厚儀全新下照式設計、性價比高、適用性強,輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測,且能自動判定測試結果

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產品簡介:

XU-100高性價比型膜厚儀

全新下照式設計、性價比高、適用性強,輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測,且能自動判定測試結果。

性能介紹

      1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和的光路轉換聚焦系統

2)擁有無損變焦檢測技術,手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-30mm

3)核心EFP算法,可對多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測層Ni和第三層Ni的厚度)

4)配備高精密微型移動滑軌,可實現多點位、多樣品的精準位移和同時檢測

5)可同時分析23個鍍層,24種元素,測量元素范圍:氯Cl(17)- 鈾U(92),涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92),涂鍍層檢出限:0.005μm

6)人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作

7)配有微光聚集技術,最近測距光斑擴散度10%

產品參數:

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