FT測試系統(tǒng)的FT-N配置（噪聲/響應(yīng)參數(shù)的測量）
FT測試系統(tǒng)FT-I配置（成像質(zhì)量參數(shù)測量）
FT測試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測量）
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測器電路（核心）的設(shè)計是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因為紅外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限，紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識。因此，測量紅外焦平面陣列性能的測量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。
FT是一個完備的測試系統(tǒng)，它產(chǎn)生精確控制時空分布的紅外，輻射到紅外焦平面的輸入平面來控制被測紅外焦平面；最后對被測紅外焦平面陣列（或熱像儀核心）進行表征所需的輸出信號進行半自動分析。
該系統(tǒng)能夠測量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數(shù)（噪聲/靈敏度、成像質(zhì)量和光譜參數(shù)）?？蓽y試不同光譜波段（LWIR或MWIR）、冷卻或非冷卻的探測器。FT系統(tǒng)可以在一系列版本中提供，并針對不同測試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進行優(yōu)化，還可以選擇能夠測試完整的熱像儀的超擴展版本。
FT測量系統(tǒng)一個模塊化的系統(tǒng)，可以方便快速地配置成三個半獨立的測量工作站：FT-N，F(xiàn)T-I，和FT-S。
1.FT-N——噪聲和響應(yīng)參數(shù)的測量；
2.FT-I——成像質(zhì)量參數(shù)的測量
3.FT-S——光譜參數(shù)測量。
紅外焦平面陣列的參數(shù)可分為三大類：
噪聲/靈敏度參數(shù)：
1.標(biāo)準(zhǔn)噪聲特性：NETD（高頻時間噪聲）、FPN（高頻空間噪聲）、不均勻性（低頻空間噪聲），
2.響應(yīng)參數(shù)：SiTF，線性，動態(tài)范圍，飽和水平，
3.高級噪聲參數(shù)：3D噪聲模型、NPSD、1/f噪聲、壞像素數(shù)和壞像素定位，
4.D*（歸一化探測率）和相關(guān)參數(shù)可選（需要知道FPA的積分時間）。
圖像質(zhì)量參數(shù)：
1.調(diào)制傳遞函數(shù)MTF，
2.能量損耗（PVF），
3.串?dāng)_。
光譜參數(shù)：
1. 相對光譜靈敏度（平均值、偏差、信號相關(guān)性）
FT測試系統(tǒng)可以以不同版本、不同測試能力和不同價格水平交付。
可使用下表所示的代碼精確確定版本。
| A | B |
編號 | 測試能力 | 測試完整的熱像儀 |
1 | 噪聲/相應(yīng)參數(shù) | 否 |
2 | 成像參數(shù) | 是 |
3 | 光譜參數(shù) |
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4 | 噪聲相應(yīng)和成像參數(shù) |
|
5 | 所有參數(shù) |
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示例代碼：
代碼FT40–測量紅外焦平面?zhèn)鞲衅?攝像機芯的噪聲/響應(yīng)和成像參數(shù)的系統(tǒng)。不能測試完整的熱像儀。
代碼FT52-測量紅外焦平面?zhèn)鞲衅?攝像機核心的噪聲/響應(yīng)、成像和光譜參數(shù)的系統(tǒng)。能夠測試完整的熱像儀。
