光致發光量子效率測量系統SpectrumTEQ-PL系列光致發光量子效率測量系統，針對器件的光致發光特性進行有效測量，可在手套箱內完成搭建，無需將樣品取出，即可完成光致發光量子效率的測試

光致發光量子效率測量系統

SpectrumTEQ-PL系列光致發光量子效率測量系統，針對器件的光致發光特性進行有效測量，可在手套箱內完成搭建，無需將樣品取出，即可完成光致發光量子效率的測試。系統搭配QE Pro光譜儀為業內旗艦系列，信噪比高、雜散光低，動態范圍大，適合不同波段和強度的激發光和發射光測量。 同時，系統配有強大的測試軟件，向導式的軟件操作邏輯讓測試過程變的簡單，迅速。

測量參數

· 量子效率

· 亮度，色坐標

· 量子效率隨不同激發能量變化的曲線

· 發射光譜

· 輻射通量，光通量

· 主波長

應用領域

· 無機光致發光

· 有機光致發光

· EL器件封裝前體主波長，實現原位測量

產品優勢

· 體積小巧：便于靈活使用及運輸

· 原位測量：可放至手套箱內

· 結構穩定：設備無需頻繁校準

產品參數