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返回產(chǎn)品中心>E3-3D:三維定位鍍層測(cè)厚儀器
參考價(jià) | 面議 |
- 公司名稱 深圳市禾苗分析儀器有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 深圳市
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/3/15 15:58:56
- 訪問次數(shù) 93
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E3是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀(EDXRF),專門用于鍍層厚度檢測(cè);其核心部件采用美國(guó)進(jìn)口,軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù),儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告;精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)全面超過國(guó)內(nèi)外同類儀器,特別針對(duì)大件異形不平整樣品,無需拆分,直接測(cè)試即可達(dá)到精確的測(cè)試效果。
1.1全自動(dòng)三維樣品臺(tái)
1.2 X射線向下照射式,激光對(duì)焦
1.3小光斑設(shè)計(jì)
1.4測(cè)試時(shí)間靈活性調(diào)節(jié)
1.5多規(guī)格樣品倉
1.6 X-Ray探測(cè)器
HeLeeX E3-3D采用美國(guó)原裝全進(jìn)口一體式X-123半導(dǎo)體X射線探測(cè)器,其的半導(dǎo)體制冷技術(shù),高峰背比(信噪比),超高計(jì)數(shù)率,*的分辨率和穩(wěn)定性以及高集成化等特點(diǎn),超越其他品牌或同品牌的組裝探測(cè)器。
探測(cè)器
● 類型:X123探測(cè)器(高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器)
● Be窗厚度:1mil
● 晶體面積:25mm2
● 分辨率:145eV
●信號(hào)處理系統(tǒng):DP5
X射線管
●電壓:0-50v
●電流;2mA
●功率:50W
●靶材:Mo
●Be窗厚度:0.2mm
●使用壽命:大于2w小時(shí)
高壓電源
●輸出電壓:0-50Kv
●燈絲電流0-2mA
●功率:50w
●紋波系數(shù):0.1%(p-p值)
●8小時(shí)穩(wěn)定性:0.05%
攝像頭
●焦距:微焦距
●驅(qū)動(dòng):免驅(qū)動(dòng)
●像素:800萬像素
準(zhǔn)直器、濾光片
●系統(tǒng):快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)
●材質(zhì):多種材質(zhì)準(zhǔn)直器
●光斑:光斑大小Φ0.1mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可選
十字激光頭
●光斑形狀:十字線
●輸出波長(zhǎng):紅光650nm
●光學(xué)透鏡:玻璃透鏡
●尺寸:Φ10×30mm
●發(fā)散角度:0.1-2mrad
●工作電壓:DC 5V
●輸出功率:<>
●工作溫度:-10~50℃
其它配件
●開關(guān)電源:進(jìn)口高性能開關(guān)電源
●散熱風(fēng)扇:進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇
● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (長(zhǎng)x寬x高)
● 樣品倉尺寸:360mm×400mm x160(長(zhǎng)x寬x高,高度可定制)
● 儀器重量:50kg
● 供電電源:AC220V/ 50Hz
● 功率:330W
● 工作溫度:15-30℃
● 相對(duì)濕度:≤85%,不結(jié)露
● 根據(jù)不同基體樣品,配備三種算法,增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。
● 配備開放式分析模型功能,客戶可自行建立自己的工作模型。
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