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返回產品中心>簡要描述: 國產HK-8100ICP發射光譜儀經多年技術積累而開發的電感耦合等離子體發射光譜儀,用于測定各種物質(可溶解于鹽酸、硝酸、hf酸等)中常量、微量、痕量金屬元素或非金屬元素的含量。采用的電子電路系統和網絡接口的通信方式,實現了儀器的尋峰、測試、譜圖描跡快速簡便化操作,自動化程度高、操作簡便、穩定可靠。
國產HK-8100ICP發射光譜儀作為一種大型精密無機分析儀器,廣泛應用于稀土、貴金屬、合金材料、電子產品、醫藥衛生、冶金、地質、石油、化工、商檢、環保以及釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等行業分析檢測,可對待測樣品進行定性或從超微量到常量的定量分析。
國產HK-8100ICP發射光譜儀作為一種大型精密無機分析儀器,廣泛應用于稀土、貴金屬、合金材料、電子產品、醫藥衛生、冶金、地質、石油、化工、商檢、環保以及釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等行業分析檢測,可對待測樣品進行定性或從超微量到常量的定量分析。是集光、機、電、計算機、分析技術于一體的產品,具有測試速度快、測量范圍寬、分析結果準確可靠等特點。
公司生產的HK-2000和HK-8100系列,是我司在傳統北京ICP光譜儀技術的基礎上,吸收國際技術成果研究開發的高精度、高靈敏度的北京ICP光譜儀,具有分析速度快、穩定性高等優勢。由于采用了計算機技術,儀器的智能化、屏幕顯示的圖、文及數據的采集、處理等都達到了目前水平,是諸多行業理想的分析儀器。通過多年的精心努力,我司產品已獲得國內外眾多客戶的信任,尤其是在稀土、釹鐵硼、鎢鉬、鉭鈮、鋯鉿、碲、錫料、硅、有色金屬、飽和氯化鈉溶液、電池材料行業得到廣泛認可,并成功出口俄羅斯、非洲、南美、中南亞等國家和地區。
一、儀器整機主要性能參數:
1、波長范圍:180-800nm(2400刻線/mm)或180-500nm(3600刻線/mm)
2、分辨率:在180-500nm整個波段內分辨率≤0.006nm
3、波長示值誤差和重復性:波長示值誤差≤0.02nm,重復性≤0.003nm
4、掃描步距:可達0.0004nm
5、精密度:RSD≤1.5%
6、穩定性:RSD≤2.0%
7、檢出限:PPb級
8、分析元素范圍:可對72種金屬元素和部分非金屬元素(如B、P、Si、Se、Te)進行定量和定性分析
9、線性范圍:7個數量級以上。
10、分析速度:每分鐘掃描20個元素以上
11、等級證書:國家計量器具形式許可
二、儀器各部件詳細參數:
射頻發生器(RF)
(1)電路類型:電感反饋自激式振蕩電路、同軸電纜輸出、匹配調諧、取功率反饋信號,進行閉環自動控 制
(2)工作頻率:40.68MHz ± 0.05%
(3)頻率穩定性:≤0.05%
(4)輸出功率:800—1500W,自動調整
(5)輸出功率穩定性:≤0.3%
(6)電磁場泄漏射強度:距機身20cm 處,電場強度E:<2 V / m
進樣裝置
(1)輸出工作線圈:內徑25mm 、3匝
(2)炬管:三同心型,外徑20mm的石英炬管
(3)同軸型噴霧器:外徑6mm
(4)雙筒型霧室:外徑34mm
(5)觀測位置:縱向觀察高低和橫向觀察前后,可通過軟件直觀地調為
(6)氬氣流量計規格和載氣壓力表規格:
1、等離子氣流量計:(100-1000)L/h (1.6-16L/min)
2、輔助氣流量計:(10-100)L/h (0.16-1.66L/min)
3、載氣流量計:(10-100)L/h (0.16-1.66L/min)
4、載氣穩壓閥:(0-0.4Mpa)L/h
5、冷卻水:水溫:21-26℃ 流量>5L/min 水壓>0.1Mpa 冷卻水:電阻率>1MΩ
分光器
(1)光路:Czerny-Turner
(2)焦距:1000mm
(3)光柵規格:離子刻蝕全息光柵;刻線密度3600線/mm,刻線面積:80×110mm
(或刻線密度2400線/mm,刻線面積:80×110mm)
(4)線色散率倒數:0.26nm/mm
(5)分辨率:≤0.007nm(整個波段)
(6)掃描波長范圍: 180-500nm,3600刻線/mm;
180-800nm,2400刻線/mm
(7)掃描步距:0.0004nm
(8)出射、入射狹縫:20μm×25μm
(9)反射鏡規格:(78×105×16)mm
(10)透鏡:φ30,1:1成像
(11)反射鏡規格:凹型
(12)分光器恒溫裝置:34℃±0.5℃
測光裝置
(1)光電倍增管規格:日本高效R212UH或R928
(2)光電倍增管負高壓:200-1000V,自動調節,穩定性<0.01%
(3)光電倍增管電流測量范圍:10-4~10-9A
(4)信號采集為V/F交換:1mV對應100Hz
(5)采樣電路:使用國外高精密度運算放大器,使儀器的靈敏度和精確度大大提高
(6)儀器數據采集:通過串口與電腦連接,從而簡化了電路使連接更加便捷
(7)測光方式:單、多元素順序測量
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