RAY6000高精度光譜分析儀 技術優勢 雙曲面彎晶光學晶體(DCC)檢材 固體、粉末、液體測量方式 壓片法、袋裝分析、樣品杯旋轉分析等測量方法 高精度X熒光光譜法HDXRF測量范圍 金、鉑、鐵、錳、銅、硅、磷、硫等70多種元素 工作曲線 礦產、食品、水質等曲線激發源 X射線管

RAY6000 高精度光譜分析儀

技術優勢 雙曲面彎晶光學晶體(DCC)
檢材 固體、粉末、液體

測量方式 壓片法、袋裝分析、樣品杯旋轉分析等
測量方法 高精度X熒光光譜法HDXRF
測量范圍 金、鉑、鐵、錳、銅、硅、磷、硫等70多種元素
工作曲線 礦產、食品、水質等曲線
激發源 X射線管，50kV，1mA
探測器 高性能FAST SDD探測器
光學系統 HDXRF技術構架下的單色聚焦系統
測量時間 30 ~ 1200秒（可調）
工作溫度 -5 ℃ ~ 50 ℃
電源 110-240 VAC，50-60 Hz
重量 10Kg
尺寸 322 mm x 325 mm x 260mm (LxWxH)