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- 公司名稱 江蘇迪泰克精密儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 泰州市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/4/26 14:03:08
- 訪問次數(shù) 243
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核心技術(shù):基于第三代半導(dǎo)體自主研發(fā),面向痕量和超痕量元素分析的高靈敏度TXRF技術(shù)的基礎(chǔ)研究,涉及新型光學(xué)設(shè)計和小型化儀器開發(fā),制樣方法、基體效應(yīng)研究以及與多方法聯(lián)用的研究
核心技術(shù):
基于第三代半導(dǎo)體自主研發(fā),面向痕量和超痕量元素分析的高靈敏度TXRF技術(shù)的基礎(chǔ)研究, 涉及新型光學(xué)設(shè)計和小型化儀器開發(fā), 制樣方法、基體效應(yīng)研究以及與多方法聯(lián)用的研究。
TXRF技術(shù)原理示意圖 | 基于波導(dǎo)光學(xué)TXRF結(jié)構(gòu)示意圖 |
波導(dǎo)管(waveguide) 結(jié)構(gòu)示意圖 | Glancing Angle Dependence Of Measured Fluorescence Intensity Of Si And Ca |
For Multi-element Energy Scale Test Spectrum(x-ray Tube Was Operated At 20kv And 500μa) | Matrix Effect(Absorption And Enhancement) |
Single element | Cr | Mn | Co | Cu | Ga | Sr | Pb |
LLD/ng | 0.029 | 0.021 | 0.055 | 0.049 | 0.052 | 0.124 | 0.362 |
RSD(%, n=7) | 0. 72 | 0.81 | 121 | 1.49 | 1.14 | 2.63 |
Multi-element | S | Sc | V | Mn | co | Cu | Ga | As | Y |
LLD/ng | 0.63 | 0.16 | 0.15 | 0.13 | 0.12 | 0.16 | 0.18 | 0.31 | 0.88 |
Other report | 1.77 | 0.87 | 0. 53 | 0.35 | 0.23 | 0.43 | 0.27 | 0.50 | 0. 37 |
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