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鹵素含量檢測儀XRF-T9V

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真空型X熒光光譜儀器-鹵素含量檢測儀XRF-T9V,抽真空型全元素檢測儀器,快速,智能,精準。大樣品腔設計,內置工業計算機,外置22寸液晶顯示屏

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概述:真空型X熒光光譜儀器-鹵素含量檢測儀XRF-T9V,抽真空型全元素檢測儀器,快速,智能,精準。大樣品腔設計,內置工業計算機,外置22寸液晶顯示屏。





                          儀器檢測樣品的幾個簡單步驟




一、鹵素含量檢測儀XRF-T9V的優勢:
 
精準: ppm級精確度,可靠的檢測數據
快速:3秒內可對樣品定性識別,60秒內可得出測試結果
直觀:高清晰圖形即時顯示,檢測結果直觀明了
安全:加裝防輻射裝置,主動保護操作人員安全
經濟:價格便宜,測試過程基本不需要任何耗材

1、無需對樣品做前期處理,簡單、方便、快捷地實現貴重金屬的無損檢測。
2、具有自主知識產權的探測器保護裝置,能限度保護探測器,延長其使用壽命,降低客戶使用成本。
3、自動選擇校準曲線功能,保證貴金屬測試結果的準確可靠。
4、自主研發的形狀補償功能,能根據樣品的形狀大小,自動實現形狀補償。
5、采用高清晰攝像頭對首飾進行精確定位。
6、高精度數字多道采集系統,解決峰道漂移帶來誤差。
7、的智能風冷實現儀器冷卻的智能化。
8、集成工業計算機,采用一鍵式操作界面,操作靈活,使用方便,即學即會。
9、一鍵式打印功能,輕松實現測量報告打印。
 





二、
鹵素含量檢測儀XRF-T9V的產品特點

性價比高,可以快速準確檢測各種貴金屬,應用廣泛
無損檢測,不會對珠寶首飾造成損壞
操作簡單,自動化檢測,無需配備專業人員
檢測快速,60秒內即可得出直觀結果
便于攜帶,一體化設計,占用空間小
安全耐用,具備反輻射功能,整機壽命超過10年
 


三、
鹵素含量檢測儀XRF-T9V的儀器相關參數:

檢測原理:能量色散X射線熒光分析法
檢出限:≤1PPM,精度:±0.03%
擴展不確定度:≤0.19%
鍍層測量:鍍層厚度范圍<30um
濾光系統:12種復合濾光片任意組合
探測器:電制冷SDD探測器(美國進口)
分辨率:125ev±5
攝像頭:高清晰攝像定位系統
軟件:菜單式軟件,帶硬件參數調整和數據評估及計算
內置電容觸摸LED屏:外置22寸顯示器
樣品種類:固體、粉末。顆粒、液體
元素檢測范圍:從鈉Na-鈾U
測試時間:30S
內置工控計算機:是
高壓器:0~50Kv(進口)
溫度:-11~46℃
電壓:100~240V,50/60Hz
功率:180W
主體結構:高強度金屬外殼
規格尺寸:450Wx400Hx380mm
樣品腔尺寸:300x300x100mm
重量:38kg
 
四、
鹵素含量檢測儀XRF-T9V的標準配置
 
1、美國進口電制冷SDD探測器
2、大功率X射線光管模塊
3、高低壓電源模塊
4、多道分析模塊
5、信噪比增強模塊
6、集成高性能工業計算機,22寸液晶顯示屏
7、真空系統
8、X熒光光譜專業軟件系系統
 





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