在微電子和半導體行業中,檢驗、過程控制或缺陷和故障分析的速度至關重要。檢測缺陷的速度越快,您做出響應的速度也就越快。DM3 XL 檢驗系統憑借大視場幫助您的團隊更快地識別缺陷,提高您的收益率。充分利用其宏觀物鏡,視場寬敞30%。
徠卡DM3 XL正置顯微鏡
在微電子和半導體行業中,檢驗、過程控制或缺陷和故障分析的速度至關重要。檢測缺陷的速度越快,您做出響應的速度也就越快。
DM3 XL 檢驗系統憑借大視場幫助您的團隊更快地識別缺陷,提高您的收益率。充分利用宏觀物鏡,視場寬敞 30%。
更多細節盡收眼底,工作更高效
看到更多細節意味著工作更高效。為快速掃描達到 6" 的大組件,DM3 XL 提供宏觀物鏡。
利用 0.7x 放大倍率,它可以即刻采集 35.7 mm 的視場 – 比其他常規掃描物鏡寬敞 30%。
在宏觀物鏡下,缺陷無所遁形:
· 提高您的收益率
· 可靠檢測晶片邊緣或中心顯影不足的區域
· 檢測不均勻的徑向膜厚度
適用于所有相襯觀察方法的 LED
DM3 XL 針對所有相襯觀察方法使用 LED 照明。LED 照明可提供恒定的色溫,并在所有亮度等級下提供真彩色成像。
· 在所有亮度等級下實現真彩色成像
· 自由調節
· 無需更換燈泡 – 無停機時間
· 可復制的結果
由于 LED 使用壽命長,耗電量低,因此還具有巨大的成本節約潛力。
光學“高手”
DM3 XL 讓您以實惠的價格享受到優秀的光學性能。
· 采用斜射照明檢驗側面、邊緣或碎屑:以簡單有效的方式從不同角度照亮樣品,從而實現各種形貌的可視化。
· 借助深暗場對比檢測樣品較低層中的微小劃痕或小顆粒。
您將對明顯提高的靈敏度和分辨率感到震驚。
不同樣品 – 可變載物臺插件
無論您想要檢驗的樣品是哪種類型,尺寸如何,均有種類豐富的載物臺插件供您選擇:
· 載物臺尺寸:150 mm x 150 mm
· 載物臺插件:金屬插件、晶片支座或掩模支座
· 快速的粗略或精準載物臺定位
工作舒適直觀
彩色編碼光圈輔助 (CCDA) 對分辨率、對比和景深的基本設置進行簡化,有助于提升您的工作速度,并減少操作失誤。
直觀明了的功能幫助您的團隊更快速地交付理想結果。
· 得益于可輕松操作的控件,用戶可在切換對比度或照明時,雙手繼續操作顯微鏡,雙眼專注于樣品之上。
· 右手可輕松操控光強控制器
· 使用可變人體工學鏡筒和調焦旋鈕,根據不同身高調整顯微鏡
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