可同時測量SCI和SCE通過特殊的數字化光澤控制方式同時測量SCI和SCE,僅需4秒即可連續測量
可同時測量SCI和SCE
通過特殊的數字化光澤控制方式同時測量SCI和SCE,僅需4秒即可連續測量。與傳統機型不同的是,無需在SCI和SCE模式之間進行頻繁的機械切換,這樣就提高了工作效率。由于在切換模式時測量區域不會變化,因此可提供穩定的測量數據。
可進行熒光色的測量
也可輕松獲取任意光源下的數據(UV調整)。任意光源下僅需測量已知分光反射率數據的標準熒光樣本,即可完成UV校正。UV校正后可獲取相應光源下的樣本數據。由于無需對UV截止濾光片移動引起的嘗試錯誤進行UV調整,大大縮短了測量時間。
發射色和投射色可在1臺儀器測量
符合JIS、ISO、DIN、CIE、ASTM的di:8°、de:8°(漫射照明、8° 接收)方式
透射色測量
符合ISO、DIN、CIE、ASTM的di:0°、de:0°(漫射照明、0° 接收)方式
與CM-3600d的數據有兼容性
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