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EP3 nanofilm呈像橢偏儀
面議0簡介：德國nanofilm公司于1991年開發出了世界上*臺Brewster角顯微鏡(BAM)。近幾年來，nanofilm又相繼推出了不同用途的BAM產品以及相應的配套儀器。
源順科技儀器有限公司 會員等級: 產地：我要詢價 -
供應橢偏儀-美國科學計算公司(SCI)面議0簡介：供應橢偏儀-美國科學計算公司(SCI)供應薄膜測量儀器-美國科學計算公司(SCI)供應薄膜測試儀器-美國科學計算公司(SCI)
深圳中電網技術有限公司 會員等級: 產地：我要詢價 -
橢偏儀面議0簡介：激光橢圓偏振測厚儀（ELLIP-EY）適用于高校教學和工業薄膜測試為一款普及型的測試儀器。
上海光明企業發展有限公司 會員等級: 產地：上海市我要詢價 -
SY.29-LE 激光橢偏儀 SY.29-LE面議750簡介：多角度激光橢偏儀專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學常數，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有*的精確度和準確度。
北京卓川電子科技有限公司 會員等級: 產地：北京市我要詢價 -
SY.29-SE 光譜橢偏儀 SY.29-SE面議750簡介：光譜橢偏儀針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。針對太陽能電池應用的光譜橢偏儀基于*的...
北京卓川電子科技有限公司 會員等級: 產地：北京市我要詢價 -
SY.29-ASE 全自動光譜橢偏儀 SY.29-ASE面議750簡介：全自動光譜橢偏儀把使用者從煩瑣的手動調節樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確性。已獲得的自動樣品對準裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于透明或反射基底；能夠...
北京卓川電子科技有限公司 會員等級: 產地：北京市我要詢價 -
進口 多角度激光橢偏儀面議0簡介：高性能橢偏儀，針對粗糙表面硅太陽能電池的測量裝置，擁有業內zui高測量精確
北京羲和陽光科技發展有限公司 會員等級: 產地：北京市我要詢價