TE2891 DV/DT試驗測試系統簡介

一．系統簡述

TE2891  DV/DT試驗測試系統一套集電容容量損耗測試、DV/DT值測試以及充放電試驗于一體的多功能電容測試設備，采用高電壓、大電流電源，運用的數據采集手段，不僅可以測量電容的DV/DT參數值，還能根據所得DV/DT值，設定沖放電試驗電壓、電流、試驗頻率、試驗次數等，進行符合電容國家標準的電容脈沖試驗。在試驗過程中實時檢測被測電容表面溫升，自動定期檢測被測電容容量及損耗并記錄相關數據，試驗過程中檢測被測電容容量及損耗超差或DV/DT試驗不合格將隨時中斷試驗并記錄試驗數據并給出測試報告。

二．系統功能描述

1、電容容量測試

測試電容容量、損耗等參數

2、電容DV/DT值測試

采用高電壓、大電流頻率較低方波電源，由于測量電容在單位時間內上升的電壓值難以實現（要求電源功率較大，開關功率及速度難以實現），我們采用測量電容放電時的DV/DT值。通過示波器檢測電容器上的波形，由電腦系統分析并計算得該值，并打印出相應充放電波形。

3、電容高頻沖放電試驗

根據相關標準，設定沖放電試驗的試驗電壓、電流、沖放電間隔時間（也即沖放電頻率）、沖放電次數后，系統會自動進行沖放電試驗。本試驗用于檢測該試件金屬化薄膜電容器元件在工藝流程中可能產生的缺陷，是金屬化薄膜電容器元件作沖擊試驗用的主要設備。

  4，被測電容表面溫升實時檢測, 在試驗過程按一定的時間間隔實時采樣電容器表面溫度

 
三．系統在試驗過程中或結束時可實時記錄相關數據并給出檢測報告（電容表面溫升，電容容量及損耗，DV/DT值）

 
四，技術指標:

試驗電壓：        DC    0～1000V

DV/DT測試頻率：10HZ(100nF～5μf)

                  100HZ(1nF～100nF)

充放電試驗頻率:   0.5KHZ、1KHZ、5KHZ三檔

充電電阻：        5Ω、30Ω、100Ω、300Ω、500Ω

放電電阻：        1Ω、2Ω、5Ω、10Ω、20Ω

不合格判別：      在測試脈沖周期內低于試驗電壓80%,經放電后被自動剔除。

實時檢測溫度：    0～100度

工作電源：        AC220V±10％、50Hz±10％、消耗功率約 1000W